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日本日置IM7581阻抗分析仪价格
日本日置IM7581阻抗分析仪介绍:
日本日置IM7581阻抗分析仪的测量频率是100kHz~300MHz。和去年发售的IM7580相比,还能对应低频测量。 单一频率测量的LCR模式的话,可用于电子元件的出货检查的合格判断,变化频率的同时测量的分析模式的话,可用于产品开发中的特性评估等各种领域。
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商品品牌:
商品编号:
IM7581
日本日置IM7581阻抗分析仪介绍:
日本日置IM7581阻抗分析仪的测量频率是100kHz~300MHz。和去年发售的IM7580相比,还能对应低频测量。 单一频率测量的LCR模式的话,可用于电子元件的出货检查的合格判断,变化频率的同时测量的分析模式的话,可用于产品开发中的特性评估等各种领域。

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  • 商品介绍

日本日置IM7581阻抗分析仪主要特点:

最快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频

测量频率 100 kHz~300 MHz
测量范围 L: 160 nH~7.95 mH
C: 319 pF~15.9 μF
(测量频率 100 kHz时)
测量信号电平 -40.0 dBm~+7.0 dBm
基本精度 Z:0.72% rdg. θ: 0.41°

测量时间:最快0.5ms

紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

日本日置IM7581阻抗分析仪技术参数:

测量模式 LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ
显示范围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
测量频率 100 kMHz~300 MHz (10 Hz~10 kHz步进)
测量信号电平 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
输出阻抗 50 Ω (10 MHz时)
显示 彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间 最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
功能 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口 EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1
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