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日本日置IM7587阻抗分析仪价格
阻抗分析仪IM7587,日本日置IM7587M7587的测量频率达到了1MHz~3GHz,能够完全满足现在高频电子元件的测量仪器。在信息化发展的现在,智能手机等移动设备能够适用于LTE、Wi-Fi、GPS等,而高频化的发展也让其带宽达到数GHz
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商品编号:
IM7587
阻抗分析仪IM7587,日本日置IM7587M7587的测量频率达到了1MHz~3GHz,能够完全满足现在高频电子元件的测量仪器。在信息化发展的现在,智能手机等移动设备能够适用于LTE、Wi-Fi、GPS等,而高频化的发展也让其带宽达到数GHz

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  • 商品介绍

日本日置IM7587阻抗分析仪介绍:
这次发售的机型是可以进行比去年IM7585(可测1.3GHz的高频)更高频率测量的产品。IM7587的测量频率达到了1MHz~3GHz,能够完全满足现在高频电子元件的测量仪器。在信息化发展的现在,智能手机等移动设备能够适用于LTE、Wi-Fi、GPS等,而高频化的发展也让其带宽达到数GHz。同时,移动设备中所使用的高频感应器或铁氧体磁珠之类的电子元件也趋于高频化。这些电子元件需要按照从数百MHz到数GHz的高频来进行特性评估,所以高频的测量仪器的需求也随之增加。

日本日置IM7587阻抗分析仪技术参数:

可信赖的高端机型3GHz
测量频率:1MHz~3GHz
测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
基本精度:±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

日本日置IM7587阻抗分析仪技术参数:

基本参数
(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)
测量模式 LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量
测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ
显示范围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度 Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
测量频率 1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz)
测量信号电平 功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
电压(V) 模式: 4 mV~502 mVrms
电流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms
输出阻抗 50 Ω (10 MHz时)
显示 彩色TFT 8.4 inch, 触摸屏
测量时间 最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
功能 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口 EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件 测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1

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