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日置IM3570阻抗分析仪
1台IM3570即可进行LCR、DCR测量和扫描测量。而且和HIOKI以往的LCR测试仪相比,大幅缩短了测量时间,进一步提高了测量精度。
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IM3570
1台IM3570即可进行LCR、DCR测量和扫描测量。而且和HIOKI以往的LCR测试仪相比,大幅缩短了测量时间,进一步提高了测量精度。

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  • 商品介绍

日置IM3570阻抗分析仪的特点:

  • 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
  • 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
  • LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
  • 基本精度±0.08%的高精度测量
  • 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
  • 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
  • 主机不标配测试探头。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

    日置IM3570阻抗分析仪的技术参数:  

    测量模式 LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
    测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
    测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
    显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
    θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
    Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
    基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
    测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
    测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
    50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
    10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
    CC模式(普通模式)
    10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
    10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
    输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
    显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
    测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
    测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
    其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
    接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
    电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
    打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
    接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
    电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
    体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
    附件 电源线×1

    日置IM3570阻抗分析仪的说明:

    研发背景


    IM3570将用于线圈、电容、压电元件等电子零部件生产线上的检查,另外还适用于大学和企业研究部门的开发方面。  

    阻抗分析仪是什么?
     
    阻抗分析仪是以让测量频率和测量电压连续变化的同时,扫描测量被测物的特性为主要功能。可用于如线圈、变压器、电容、压电元件的开发和检查等用途中。因此,阻抗分析仪对于复苏中的电子零部件市场,可以说是不可欠缺的测量仪器。
    ※阻抗:交流电路中电流不容易流通的程度。单位为Ω。

    新产品的特点


    1.不同测量条件下,1台进行高速测量
    测量电容等零部件时,有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目,1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量,1台仪器即可满足所有要求。
    2.检查速度提高了2倍(跟以往型号相比)
    和HIOKI的以往型号(3532-50)相比,大大缩短了测量时间。LCR模式下,以往机型一般需要5ms的测量时间,而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中,IM3570发挥了作用。
    3.测量的反复精度提高了1位(※1mΩ,100次测量时)
    功能性高分子电容在推进低ESR化的同时,要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位,因此为用户提供稳定测量。
    4.广范围的测量频率
    IM3570可在DC和4Hz~5Hz的范围内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。
    5.15种测量参数
    可测量Z、Y等15种参数,并将需要的参数读取至计算机中。
    6.具备防止误操作的接触检查功能
    装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况,因此可以避免出现未检查的产品出厂。
    7.广范围的测量电压/电流
    外加一般的开路信号发生,可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的测量信号电平。
    8. 测试线可延长至4m
    4端子的构造可降低测试线的影响,测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。
     

    日置IM3570阻抗分析仪的应用:

    主要销售对象
     
    电子零部件(线圈、电容、压电元件等)市场
    大学、研究开发部门

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